Zdjęcie 1 z 1
Characterizati
Stan:
Cena:
GBP 122,36
Około613,50 zł
- Kup terazCharacterization Methods for Submicron MOSFETs (The Springer International Seri
Wysyłka:
Znajduje się w: Hertfordshire, Wielka Brytania
Dostawa:
Szacowana między Pt, 31 maj a Pt, 7 cze do 43230
Zwroty:
Zwrot w ciągu 30 dni. Za wysyłkę zwrotną płaci kupujący. Zobacz szczegóły- aby uzyskać więcej informacji dotyczących zwrotów
Płatności:
Kupuj bez obaw
Informacje o sprzedawcy
- 99,1% opinii pozytywnych
Zarejestrowany jako sprzedawca-firma
Sprzedawca ponosi pełną odpowiedzialność za wystawienie tej oferty sprzedaży.
Nr przedmiotu eBay: 152471050351
Ostatnia aktualizacja: 13-02-2020 17:18:28 CET Wyświetl wszystkie poprawkiWyświetl wszystkie poprawki
Parametry przedmiotu
- Stan
- ISBN
- 9780792396956
- Subject Area
- Electrical Engineering
- Publication Name
- Characterization Methods for Submicron Mosfets
- Publisher
- Springer
- Subject
- Engineering & Technology, Physics
- Publication Year
- 1996
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Item Height
- 235mm
- Item Width
- 155mm
- Item Weight
- 1170g
- Number of Pages
- 232 Pages
O tym produkcie
Product Information
The Metal-Oxide Semiconductor Field-Effect Transistor (MOSFET) is a key component in modern microelectronics. During the last decade, device physicists, researchers and engineers have been continuously faced with new elements making the task of MOSFET characterization increasingly crucial, as well as more difficult. The progressive miniaturization of devices has caused several phenomena to emerge and modify the performance of scaled-down MOSFETs. Localized degradation induced by hot carrier injection and Random Telegraph Signal (RTS) noise generated by individual traps are examples. It was thus unavoidable to develop new models and new characterization methods, or at least adapt the existing ones to cope with the special nature of these new phenomena. This study deals with techniques which show high potential for characterization of submicron devices. Focus is placed upon the adaptation of such methods to resolve measurement problems relevant to VLSI devices and new materials, especially Silicon-on-Insulator (SOI). The book was written to provide help to device engineers and researchers to enable them cope with the challenges they face. Without adequate device characterization, new physical phenomena and new types of defects or damage may not be well identified or dealt with, leading to an undoubted obstruction of the device development cycle.
Product Identifiers
Publisher
Springer
ISBN-13
9780792396956
eBay Product ID (ePID)
91408789
Product Key Features
Subject Area
Electrical Engineering
Publication Name
Characterization Methods for Submicron Mosfets
Format
Hardcover
Language
English
Subject
Engineering & Technology, Physics
Publication Year
1996
Type
Textbook
Number of Pages
232 Pages
Dimensions
Item Height
235mm
Item Width
155mm
Volume
352
Item Weight
1170g
Additional Product Features
Series Title
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Editor
Hisham Haddara
Country/Region of Manufacture
Netherlands
Opis przedmiotu podany przez sprzedawcę
Informacje o firmie
Phatpocket Limited
Scott Sherman
Unit 20501
40-45 Cartersfield Road
Waltham Abbey
Essex
EN9 1JD
United Kingdom
Numer VAT (NIP):
- GB 858 5123 06
Numer rejestracyjny (REGON):
- 04924751
Oświadczam, że wszystkie moje działania związane ze sprzedażą będą zgodne z wszystkimi przepisami i regulacjami UE.
Sprzedawca ponosi pełną odpowiedzialność za wystawienie tej oferty sprzedaży.
Nr przedmiotu eBay: 152471050351
Ostatnia aktualizacja: 13-02-2020 17:18:28 CET Wyświetl wszystkie poprawkiWyświetl wszystkie poprawki
Wysyłka i obsługa
Lokalizacja przedmiotu:
Hertfordshire, Wielka Brytania
Wysyłka do:
Cały świat
Wykluczenia:
Afganistan, Chiny, Hongkong, Jemen, Libia, Nauru, Rosja, Somalia, Tajwan, Ukraina, Włochy
| Wysyłka i obsługa | Do | Usługa | Dostawa*Zobacz uwagi o dostawie |
|---|---|---|---|
| GBP 7,20 (około 36,10 zł) | Stany Zjednoczone | Wysyłka standardowa (Royal Mail International Standard) |
| Czas na wysłanie |
|---|
| Zwykle wysyłam przesyłkę w ciągu 2 dni roboczych po otrzymaniu rozliczonej płatności. |
| Podatki |
|---|
| Podczas realizacji transakcji mogą zostać naliczone podatki. Dowiedz się więcejDowiedz się więcej o płaceniu podatku za zakupy na eBay. |
Podatek od sprzedaży dla przedmiotu nr 152471050351
Podatek od sprzedaży dla przedmiotu nr 152471050351
Sprzedawca nalicza podatek od sprzedaży dla przedmiotów wysyłanych do następujących stanów:
| Stan | Stawka podatku od sprzedaży |
|---|
Warunki zwrotów
| Po otrzymaniu przedmiotu skontaktuj się ze sprzedawcą w ciągu | Wysyłka zwrotna |
|---|---|
| 30 dni | Za wysyłkę zwrotną płaci kupujący |
Kupujący jest odpowiedzialny za opłacenie kosztów wysyłki zwrotnej.
| Szczegóły warunków zwrotów |
|---|
| Zwroty są przyjmowane |
Szczegóły dotyczące płatności
Formy płatności
Zarejestrowany jako sprzedawca-firma
Opinie sprzedawców (42 126)
g***o (528)- Opinie wystawione przez kupującego.
Ostatni miesiąc
Zakup potwierdzony
Fantastic, thank you!
e***t (149)- Opinie wystawione przez kupującego.
Ostatni miesiąc
Zakup potwierdzony
Good eBayer
s***j (23)- Opinie wystawione przez kupującego.
Ostatni miesiąc
Zakup potwierdzony
Fine, prompt delivery thank you.