|Wystawione w kategorii:
Masz taki przedmiot na sprzedaż?

Projektowanie, automatyzacja i testowanie w Europie: najbardziej wpływowe dokumenty od 10 lat

Tekst oryginalny
Design, Automation, and Test in Europe: The Most Influential Papers of 10 Years
Stan:
Nowy
Dostępne: 3
Cena:
US $124,35
Około508,89 zł
Wysyłka:
Bezpłatnie Economy Shipping. Zobacz szczegółydla wysyłki
Znajduje się w: Fairfield, Ohio, Stany Zjednoczone
Dostawa:
Szacowana między Wt, 2 lip a So, 13 lip do 43230
Szacowane czasy dostaw - otwiera się w nowym oknie lub nowej karcie uwzględniają podany przez sprzedawcę czas na wysłanie przesyłki, kod pocztowy nadawcy, kod pocztowy odbiorcy i czas przyjęcia. Czasy te zależą od wybranego rodzaju usługi wysyłkowej oraz czasu rozliczenia płatnościrozliczona płatność - otwiera się w nowym oknie lub nowej karcie. Czasy dostawy mogą się różnić, szczególnie w okresach największego ruchu.
Zwroty:
Zwrot w ciągu 30 dni. Za wysyłkę zwrotną płaci kupujący. Zobacz szczegóły- aby uzyskać więcej informacji dotyczących zwrotów
Płatności:
     

Kupuj bez obaw

Najlepszy Sprzedawca
Zaufany sprzedawca, szybka wysyłka i łatwe zwroty. 
Gwarancja zwrotu pieniędzy eBay
Otrzymasz przedmiot, jaki zamawiasz, albo zwrot pieniędzy. 

Informacje o sprzedawcy

Zarejestrowany jako sprzedawca-firma
Sprzedawca ponosi pełną odpowiedzialność za wystawienie tej oferty sprzedaży.
Nr przedmiotu eBay: 386679789140
Ostatnia aktualizacja: 19-05-2024 14:24:28 CEST Wyświetl wszystkie poprawkiWyświetl wszystkie poprawki

Parametry przedmiotu

Stan
Nowy: Nowa, nieczytana, nieużywana książka w idealnym stanie, wszystkie strony, bez uszkodzeń. Aby ...
ISBN-13
9781402064876
Book Title
Design, Automation, and Test in Europe
ISBN
9781402064876
Subject Area
Computers, Technology & Engineering
Publication Name
Design, Automation, and Test in Europe : the Most Influential Papers of 10 Years Date
Item Length
9.3 in
Publisher
Springer Netherlands
Subject
Hardware / General, Electronics / Circuits / General, Electronics / General
Publication Year
2008
Type
Textbook
Format
Hardcover
Language
English
Item Height
0.4 in
Author
Jan Madsen, Rudy Lauwereins
Item Width
6.1 in
Item Weight
33.5 Oz
Number of Pages
Xii, 516 Pages

O tym produkcie

Product Information

The Design Automation and Test in Europe, DATE, is Europe's leading international electronic systems design conference for electronic design, automation and test, from system level hardware and software implementation right down to integrated circuit design. It combines the conference with Europe's leading international ex- bition for electronic design, automation and test. To celebrate the tenth anniversary of DATE, we have compiled this book with the aim to highlight some of the most influential technical contributions from ten years of DATE. Selecting 30 papers, only 3 papers from each year, is a challenging endeavor. Although the impact of papers from the first years of DATE can be det- mined through various citation indexes, the impact from the later years still have to be seen. Together with all 10 Program Chairs, we have made a selection of the most influential papers covering the very broad range of topics which is characteristic for DATE.

Product Identifiers

Publisher
Springer Netherlands
ISBN-10
140206487x
ISBN-13
9781402064876
eBay Product ID (ePID)
25038575675

Product Key Features

Author
Jan Madsen, Rudy Lauwereins
Publication Name
Design, Automation, and Test in Europe : the Most Influential Papers of 10 Years Date
Format
Hardcover
Language
English
Subject
Hardware / General, Electronics / Circuits / General, Electronics / General
Publication Year
2008
Type
Textbook
Subject Area
Computers, Technology & Engineering
Number of Pages
Xii, 516 Pages

Dimensions

Item Length
9.3 in
Item Height
0.4 in
Item Width
6.1 in
Item Weight
33.5 Oz

Additional Product Features

LCCN
2007-939398
Intended Audience
Scholarly & Professional
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Tk7867-7867.5
Table of Content
System Level Design.- System Level Design: Past, Present, and Future.- Scheduling of Conditional Process Graphs for the Synthesis of Embedded Systems.- EXPRESSION: A Language for Architecture Exploration Through Compiler/Simulator Retargetability.- RTOS Modeling for System Level Design.- Context-Aware Performance Analysis for Efficient Embedded System Design.- Lock-Free Synchronization for Dynamic Embedded Real-Time Systems.- What If You Could Design Tomorrow's System Today?.- Networks on Chip.- Networks on Chips.- A Generic Architecture for On-Chip Packet-Switched Interconnections.- Trade-offs in the Design of a Router with Both Guaranteed and Best-Effort Services for Networks on Chip.- Exploiting the Routing Flexibility for Energy/Performance-Aware Mapping of Regular NoC Architectures.- xpipesCompiler: A Tool for Instantiating Application-Specific Networks on Chip.- A Network Traffic Generator Model for Fast Network-on-Chip Simulation.- Modeling, Simulation and Run-Time Management.- Modeling, Simulation and Run-Time Management.- Dynamic Power Management for Nonstationary Service Requests.- Quantitative Comparison of Power Management Algorithms.- Energy Efficiency of the IEEE 802.15.4 Standard in Dense Wireless Microsensor Networks: Modeling and Improvement Perspectives.- Statistical Blockade: A Novel Method for Very Fast Monte Carlo Simulation of Rare Circuit Events, and its Application.- Compositional Specification of Behavioral Semantics.- Design Technology for Advanced Digital Systems in CMOS and Beyond.- Design Technology for Advanced Digital Systems in CMOS and Beyond.- Address Bus Encoding Techniques for System-Level Power Optimization.- MOCSYN: Multiobjective Core-Based Single-Chip System Synthesis.- Minimum Energy Fixed-Priority Scheduling for VariableVoltage Processors.- Synthesis and Optimization of Threshold Logic Networks with Application to Nanotechnologies.- Physical Design and Validation.- Physical Design and Validation.- Interconnect Tuning Strategies for High-Performance ICs.- Efficient Inductance Extraction via Windowing.- Soft-Error Tolerance Analysis and Optimization of Nanometer Circuits.- A Single Photon Avalanche Diode Array Fabricated in Deep-Submicron CMOS Technology.- Test and Verification.- The Test and Verification Influential Papers in the 10 Years of DATE.- Cost Reduction and Evaluation of a Temporary Faults-Detecting Technique.- An Integrated System-on-Chip Test Framework.- Efficient Spectral Techniques for Sequential ATPG.- BerkMin: A Fast and Robust Sat-Solver.- Improving Compression Ratio, Area Overhead, and Test Application Time for System-on-Chip Test Data Compression/Decompression.- An Effective Technique for Minimizing the Cost of Processor Software-Based Diagnosis in SoCs.
Copyright Date
2008
Dewey Decimal
621.381
Dewey Edition
22
Illustrated
Yes

Opis przedmiotu podany przez sprzedawcę

Informacje o firmie

Premier Books LLC
David Taylor
26C Trolley Sq
19806-3356 Wilmington, DE
United States
Pokaż informacje kontaktowe
:liam-Emoc.liaterelgaednarg@yabe
Oświadczam, że wszystkie moje działania związane ze sprzedażą będą zgodne z wszystkimi przepisami i regulacjami UE.
grandeagleretail

grandeagleretail

98,3% opinii pozytywnych
Sprzedane przedmioty: 2,7 mln
Zwykle odpowiada w ciągu 24 godzin

Oceny szczegółowe

Średnia z ostatnich 12 miesięcy

Dokładność opisu
4.9
Przystępny koszt wysyłki
5.0
Szybkość wysyłki
4.9
Komunikacja
4.9
Zarejestrowany jako sprzedawca-firma

Opinie sprzedawców (1 025 133)

-***7 (196)- Opinie wystawione przez kupującego.
Ostatni miesiąc
Zakup potwierdzony
Book is in described condition. Easy transaction. Recommend seller.
d***d (1108)- Opinie wystawione przez kupującego.
Ostatni miesiąc
Zakup potwierdzony
Thank you ☺️
r***s (1479)- Opinie wystawione przez kupującego.
Ostatni miesiąc
Zakup potwierdzony
Very glad to have found this interesting book about a fascinating subject (and Gay subculture) at a good price and in great condition. Thank you Grand Eagle Retail!