Zdjęcie 1 z 1

Masz taki przedmiot na sprzedaż?

Sprzedaj sam

Spektroskopie jonowe do analizy powierzchni autorstwa Alvina W. Czanderny (angielska) Hardcove–

Stan:

Nowy

Ilość:

Dostępne: 3

Cena:

US $112,82

Około456,44 zł

Wysyłka:

Bezpłatnie Economy Shipping. Zobacz szczegółydla wysyłki

Znajduje się w: Fairfield, Ohio, Stany Zjednoczone

Dostawa:

Szacowana między Wt, 9 lip a Pt, 19 lip do 43230

Zwroty:

Zwrot w ciągu 30 dni. Za wysyłkę zwrotną płaci kupujący. Zobacz szczegóły- aby uzyskać więcej informacji dotyczących zwrotów

Płatności:

Kupuj bez obaw

Najlepszy Sprzedawca

Zaufany sprzedawca, szybka wysyłka i łatwe zwroty.

Dowiedz się więcej- Top Rated Plus – otwiera się w nowym oknie lub nowej karcie

Gwarancja zwrotu pieniędzy eBay

Otrzymasz przedmiot, jaki zamawiasz, albo zwrot pieniędzy.

Dowiedz się więcejGwarancja zwrotu pieniędzy eBay – otwiera się w nowym oknie lub nowej karcie

Informacje o sprzedawcy

grandeagleretail (921606)
98,3% opinii pozytywnych

Zarejestrowany jako sprzedawca-firma

Zgłoś ten przedmiot - otwiera się w nowym oknie lub nowej karcie

Sprzedawca ponosi pełną odpowiedzialność za wystawienie tej oferty sprzedaży.

Nr przedmiotu eBay: 395142222067

Ostatnia aktualizacja: 19-05-2024 16:42:57 CEST Wyświetl wszystkie poprawkiWyświetl wszystkie poprawki

Parametry przedmiotu

Stan: Nowy: Nowa, nieczytana, nieużywana książka w idealnym stanie, wszystkie strony, bez uszkodzeń. Aby ...

ISBN-13: 9780306437922

Book Title: Ion Spectroscopies for Surface Analysis

ISBN: 9780306437922

Subject Area: Science

Publication Name: Ion Spectroscopies for Surface Analysis

Publisher: Springer

Item Length: 9 in

Subject: Spectroscopy & Spectrum Analysis, Physics / Condensed Matter, Chemistry / Physical & Theoretical, Chemistry / Analytic

Publication Year: 1991

Series: Methods of Surface Characterization Ser.

Type: Textbook

Format: Hardcover

Language: English

Author: D. M. Hercules, A. W. Czanderna

Item Weight: 31.4 Oz

Item Width: 6 in

Number of Pages: Xvii, 469 Pages

O tym produkcie

Product Information

Determining the elemental composition of surfaces is an essential measurement in characterizing solid surfaces. At present, many ap proaches may be applied for measuring the elemental and molecular composition of a surface. Each method has particular strengths and limitations that often are directly connected to the physical processes involved. Typically, atoms and molecules on the surface and in the near surface region may be excited by photons, electrons, ions, or neutrals, and the detected particles are emitted, ejected, or scattered ions or electrons. The purpose of this book is to bring together a discussion of the surface compositional analysis that depends on detecting scattered or sputtered ions, and the methods emphasized are those where instruments are commercially available for carrying out the analysis. For each topic treated, the physical principles, instrumentation, qualitative analysis, artifacts, quantitative analysis, applications, opportunities, and limita tions are discussed. The first chapter provides an overview of the role of elemental composition in surface science; compositional depth profiling; stimulation by an electric field, electrons, neutrals, or photons and detection of ions; and then stimulation by ions, and detection of ions, electrons, photons, or neutrals.

Product Identifiers

Publisher

Springer

ISBN-10

0306437929

ISBN-13

9780306437922

eBay Product ID (ePID)

133036

Product Key Features

Number of Pages

Xvii, 469 Pages

Language

English

Publication Name

Ion Spectroscopies for Surface Analysis

Publication Year

1991

Subject

Spectroscopy & Spectrum Analysis, Physics / Condensed Matter, Chemistry / Physical & Theoretical, Chemistry / Analytic

Type

Textbook

Subject Area

Science

Author

D. M. Hercules, A. W. Czanderna

Series

Methods of Surface Characterization Ser.

Format

Hardcover

Dimensions

Item Weight

31.4 Oz

Item Length

9 in

Item Width

6 in

Additional Product Features

Intended Audience

College Audience

LCCN

91-019636

Dewey Edition

Series Volume Number

Number of Volumes

1 Vol.

Illustrated

Yes

Dewey Decimal

541.3/3

Lc Classification Number

Qd71-142

Table of Content

1. Overview of Ion Spectroscopies for Surface Compositional Analysis.- Glossary of Acronyms.- 1. Purposes.- 2. Introduction.- 3. Overview of Compositional Surface Analysis by Ion Spectroscopies.- 4. Ion Spectroscopies Using Ion Stimulation.- 5. Ion Spectroscopies Using Ion Detection.- References.- 2. Surface Structure and Reaction Studies by Ion-Solid Collisions.- 1. Introduction.- 2. The Experimental Approach.- 3. How to View the Process.- 4. Electronic Effects.- 5. Surface Characterization with Ion Bombardment.- 6. Conclusions and Prospects.- References.- 3. Particle-Induced Desorption Ionization Techniques for Organic Mass Spectrometry.- 1. Introduction.- 2. Spectral Effects of Primary Beam Parameters.- 3. Properties of Secondary Ions.- 4. Sample Preparation.- 5. Special Techniques.- 6. Future Prospects.- References.- 4. Laser Resonant and Nonresonant Photoionization of Sputtered Neutrals.- Glossary of Symbols and Acronyms.- 1. Introduction.- 2. Photoionization.- 3. Experimental Details.- 4. Artifacts, Quantitation, Capabilities, and Limitations.- 5. Applications.- 6. Future Directions.- 7. Summary.- References.- 5. Rutherford Backscattering and Nuclear Reaction Analysis.- 1. Introduction.- 2. Principles of the Methods.- 2. Apparatus.- 4. Quantitative Analysis and Sensitivity.- 5. Ion Scattering as a Structural Tool.- 6. Applications.- 7. Outstanding Strengths of RBS in Relation to AES, XPS, and SIMS.- References.- 6. Ion Scattering Spectroscopy.- 1. Introduction.- 2. Basic Principles.- 3. Experimental Techniques.- 4. Calculations.- 5. Analysis of Surface Composition.- 6. Structure of Crystalline Surfaces.- References.- 7. Comparison of SIMS, SNMS, ISS, RBS, AES, and XPS Methods for Surface Compositional Analysis.- 1. Purpose.- 2. Introduction.- 3. Comparison Categories or Criteria.- 4. The Surface Analysis Community.- References.- Standard Terminology Relating to Surface Analysis.- Density of Large-Diameter Ion Beams for Sputter Depth Profiling of Solid Surfaces.- Standard Guide for Specimen Handling in Auger Electron Spectroscopy, X-Ray Photoelectron Spectroscopy, and Secondary Ion Mass Spectrometry.- Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).

1991

Opis przedmiotu podany przez sprzedawcę

Informacje o firmie

Premier Books LLC

David Taylor

26C Trolley Sq

19806-3356 Wilmington, DE

United States

Pokaż informacje kontaktowe

:liam-Emoc.liaterelgaednarg@yabe

Oświadczam, że wszystkie moje działania związane ze sprzedażą będą zgodne z wszystkimi przepisami i regulacjami UE.

Sprzedawca ponosi pełną odpowiedzialność za wystawienie tej oferty sprzedaży.

Nr przedmiotu eBay: 395142222067

Ostatnia aktualizacja: 19-05-2024 16:42:57 CEST Wyświetl wszystkie poprawkiWyświetl wszystkie poprawki

Wysyłka i obsługa

Lokalizacja przedmiotu:

Fairfield, Ohio, Stany Zjednoczone

Wysyłka do:

Afganistan, Albania, Algieria, Andora, Angola, Anguilla, Antigua i Barbuda, Antyle Holenderskie, Arabia Saudyjska, Argentyna, Armenia, Aruba, Australia, Austria, Azerbejdżan, Bahamy, Bahrajn, Bangladesz, Belgia, Belize, Benin, Bermudy, Bhutan, Boliwia, Botswana, Bośnia i Hercegowina, Brazylia, Brunei, Brytyjskie Wyspy Dziewicze, Burkina Faso, Burundi, Bułgaria, Cały świat, Chile, Chiny, Chorwacja, Cypr, Czad, Czarnogóra, Czechy, Dania, Demokratyczna Republika Konga, Dominika, Dominikana, Dżibuti, Egipt, Ekwador, Erytrea, Estonia, Eswatini, Etiopia, Falklandy (Malwiny), Fidżi, Filipiny, Finlandia, Francja, Gabon, Gambia, Ghana, Gibraltar, Grecja, Grenada, Grenlandia, Gruzja, Guernsey, Gujana, Gwatemala, Gwinea, Gwinea Bissau, Gwinea Równikowa, Haiti, Hiszpania, Holandia, Honduras, Hongkong, Indie, Indonezja, Irak, Irlandia, Islandia, Izrael, Jamajka, Japonia, Jemen, Jersey, Jordania, Kajmany, Kambodża, Kamerun, Kanada, Katar, Kazachstan, Kenia, Kirgistan, Kiribati, Kolumbia, Komory, Kongo, Korea Południowa, Kostaryka, Kuwejt, Laos, Lesotho, Liban, Liberia, Liechtenstein, Litwa, Luksemburg, Macedonia Północna, Madagaskar, Majotta, Makau, Malawi, Malediwy, Malezja, Mali, Malta, Maroko, Mauretania, Mauritius, Meksyk, Monako, Mongolia, Montserrat, Mozambik, Mołdawia, Namibia, Nauru, Nepal, Niemcy, Niger, Nigeria, Nikaragua, Niue, Norwegia, Nowa Zelandia, Oman, Pakistan, Paragwaj, Peru, Polska, Portugalia, Południowa Afryka, Republika Zielonego Przylądka, Republika Środkowoafrykańska, Rumunia, Rwanda, Sahara Zachodnia, Saint Kitts i Nevis, Saint Lucia, Saint Pierre i Miquelon, Saint Vincent i Grenadyny, Salwador, San Marino, Senegal, Serbia, Seszele, Sierra Leone, Singapur, Somalia, Sri Lanka, Surinam, Svalbard i Jan Mayen, Szwajcaria, Szwecja, Słowacja, Słowenia, Tadżykistan, Tajlandia, Tajwan, Tanzania, Togo, Tonga, Trynidad i Tobago, Tunezja, Turcja, Turkmenistan, Turks i Caicos, Tuvalu, Uganda, Urugwaj, Uzbekistan, Vanuatu, Wallis i Futuna, Watykan, Wielka Brytania, Wietnam, Wybrzeże Kości Słoniowej, Wyspy Cooka, Wyspy Salomona, Węgry, Włochy, Zambia, Zimbabwe, Zjednoczone Emiraty Arabskie, Łotwa, Święta Helena

Wykluczenia:

APO/FPO, Alaska/Hawaje, Barbados, Białoruś, Gujana Francuska, Gwadelupa, Libia, Martynika, Nowa Kaledonia, Panama, Papua-Nowa Gwinea, Polinezja Francuska, Protektoraty USA, Reunion, Rosja, Samoa Zachodnie, Ukraina, Wenezuela

Ilość:

Zmień kraj:

Kod pocztowy:

Wysyłka i obsługa	Każdy dodatkowy przedmiot	Do	Usługa	Dostawa*Zobacz uwagi o dostawie
Bezpłatna wysyłka	Bezpłatnie	Stany Zjednoczone	Economy Shipping	Szacowana między Wt, 9 lip a Pt, 19 lip do 43230

Uwagi – Dostawa *Szacowane czasy dostaw uwzględniają podany przez sprzedawcę czas na wysłanie przesyłki, kod pocztowy nadawcy, kod pocztowy odbiorcy i czas przyjęcia zamówienia. Czasy te zależą od wybranego rodzaju usługi wysyłkowej oraz czasu rozliczenia płatności. Czasy dostawy mogą się różnić, szczególnie w okresach największego ruchu.

Czas na wysłanie

Zwykle wysyłam przesyłkę w ciągu 10 dni roboczych po otrzymaniu rozliczonej płatności.

Podatki

Podczas realizacji transakcji mogą zostać naliczone podatki. Dowiedz się więcejDowiedz się więcej o płaceniu podatku za zakupy na eBay.